GEN5 SSD测试系统
支持32GT/s,;
电流电压测试精度:16bit ADC,精度: 0.0025mA,1mV;
电压拉偏:+-10%;
• 全新硬件架构,采用Xoen 4th CPU,自诊+监控系统;
※支持32GT/s,;
※电流电压测试精度:16bit ADC,精度: 0.0025mA,1mV;
※电压拉偏:+-10%;
• 温箱:-40~100度+湿度、-10~100度;温度偏差≤±2℃(空载),温度偏差≤±4℃(满载,60W);
• 同时支持SATA/SAS/PCIe 5.0 & 向下兼容;
• 支持多种接口规格 AIC/U.2/U.3/M.2和EDSFF;
• 独立脚本控制 - 支持每个Slot独立运行;
• 完整的log记录 - 提供完整的Scripts Log、Kernel log 和 Serial Port log支持FA debug;
• 实时监控 - 实时刷新Scripts log 和测试步骤显示,统计测试状态和相应数量,监控温湿度变化,同时获取slot的实时电压和电流;
• UART- 每个Socket支持独立串口debug;
• 电压测试 - <1%误差,电流测试 - <2% 误差,支持低功耗状态;
• 支持NVMe-MI接口的带外管理(SMbus),,实时获取测试信息及监控;
• 支持工程/研发/量产测试(Function Test),丰富的FT测试用例库……
• 支持Dual/Single Port selectable;
• 支持CXL(Compute Express Link);
• 支持nvme 2.0向下兼容:
※ZNS(Zoned namespaces)
※PV Command set
※NVM set & endurance group management
※Simple Copy Command
※Command and Feature Lockdown
※More Nvme 2.0 Feature……