SSD测试系统
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GA300系列_ NV(SA)256BI
256x 同测对象(DUT)
支持NVMe(PCIe Gen3, Gen4, Gen5), SATA/SAS
支持多种接口规格 AIC、U.2、M.2、 U.3和EDSFF , SATA/SAS¥ 0.00查看详情》
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GEN5 SSD测试系统
全新硬件架构，采用Xoen 4th CPU，自诊+监控系统；
支持32GT/s，；
电流电压测试精度：16bit ADC，精度: 0.0025mA，1mV；
电压拉偏：+-10%；¥ 0.00查看详情》
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GA300系列 NV(SA)64E
64x 同测对象(DUT)
支持NVMe(PCIe Gen3,Gen4,Gen5)，SATA/SAS(不同机台型号)¥ 0.00查看详情》
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研发桌面Bench
4x/ 8x 同测对象(DUT)
支持NVMe(PCIe Gen3,Gen4, Gen5)，SATA/SAS¥ 0.00查看详情》
夏系列·嵌入式存储器测试系统
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GA300系列_ NV(SA)256BI
256x 同测对象(DUT)
支持NVMe(PCIe Gen3, Gen4, Gen5), SATA/SAS
支持多种接口规格 AIC、U.2、M.2、 U.3和EDSFF , SATA/SAS¥ 0.00查看详情》
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GEN5 SSD测试系统
全新硬件架构，采用Xoen 4th CPU，自诊+监控系统；
支持32GT/s，；
电流电压测试精度：16bit ADC，精度: 0.0025mA，1mV；
电压拉偏：+-10%；¥ 0.00查看详情》
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GA300系列 NV(SA)64E
64x 同测对象(DUT)
支持NVMe(PCIe Gen3,Gen4,Gen5)，SATA/SAS(不同机台型号)¥ 0.00查看详情》
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研发桌面Bench
4x/ 8x 同测对象(DUT)
支持NVMe(PCIe Gen3,Gen4, Gen5)，SATA/SAS¥ 0.00查看详情》
