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  • 春系列·嵌入式存储器测试系统

  • 夏系列·存储颗粒测试系统

  • 秋系列·SSD测试系统

  • 冬系列·DDR测试系统

  • 研发桌面Bench
    4x/ 8x 同测对象(DUT)
    支持NVMe(PCIe Gen3,Gen4, Gen5),SATA/SAS
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  • GA300系列 NV(SA)64E
    64x 同测对象(DUT)
    支持NVMe(PCIe Gen3,Gen4,Gen5),SATA/SAS(不同机台型号)
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  • GA300系列_ NV(SA)256BI
    256x 同测对象(DUT)
    支持NVMe(PCIe Gen3, Gen4, Gen5),  SATA/SAS
    支持多种接口规格 AIC、U.2、M.2、 U.3和EDSFF , SATA/SAS
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  • GEN5 SSD测试系统
    全新硬件架构,采用Xoen 4th CPU,自诊+监控系统;
    支持32GT/s,;
    电流电压测试精度:16bit ADC,精度: 0.0025mA,1mV;
    电压拉偏:+-10%;
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