春系列·嵌入式存储器测试系统
夏系列·存储颗粒测试系统
秋系列·SSD测试系统
冬系列·DDR测试系统
研发桌面Bench
4x/ 8x 同测对象(DUT)
支持NVMe(PCIe Gen3,Gen4, Gen5),SATA/SAS
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GA300系列 NV(SA)64E
64x 同测对象(DUT)
支持NVMe(PCIe Gen3,Gen4,Gen5),SATA/SAS(不同机台型号)
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GA300系列_ NV(SA)256BI
256x 同测对象(DUT)
支持NVMe(PCIe Gen3, Gen4, Gen5), SATA/SAS
支持多种接口规格 AIC、U.2、M.2、 U.3和EDSFF , SATA/SAS
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GEN5 SSD测试系统
全新硬件架构,采用Xoen 4th CPU,自诊+监控系统;
支持32GT/s,;
电流电压测试精度:16bit ADC,精度: 0.0025mA,1mV;
电压拉偏:+-10%;
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